Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), Berlinvergeben
- Frist (abgelaufen)
- vor 1169 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Veröffentlicht
Beschreibung
Analytisches Hochleistungs-FE-REM mit Hoch- und Niedrigauflösung für Abbildung, EBSD (TKD) und EDX im Hoch- sowie Niedrigvakuum gemäß Leistungsbeschreibung und Vergabeunterlagen
Zuschlag
Den Zuschlag erhielt Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH aus Oberkochen am 07.09.2023.
- Los 1Carl Zeiss Microscopy Deutschland GmbH, Oberkochen07.09.2023