Beschaffung einer CT-Anlage

Universität Hamburg, HamburgFrist abgelaufen

Frist (abgelaufen): 20.06.2024, 09:00 Uhrvor 838 Tagen abgelaufen
Geschätzter Wert: 280.000 €
Verfahren: Offenes Verfahren, Lieferung
Ort der Leistung: Hamburg · Hamburg
Veröffentlicht: 06.05.2024
Laufzeit: 01.10.2024 bis offen
Für KMU geeignet: keine Angabe des Auftraggebers
Branche: Labor und Messtechnik
CPV: 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)33111000 Röntgengeräte · 33115000 Ausrüstung für Tomografie

Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.

Beschreibung

Die Universität Hamburg (im Folgenden „UHH“) ist als Exzellenzuniversität mit mehr als 43.000 Studierenden und ca. 6.000 Mitarbeiterinnen und Mitarbeitern eine der forschungsstärksten Universitäten Deutschlands und gleichzeitig eine der größten Ausbildungseinrichtungen Norddeutschlands. Mit ihrem Konzept der „Flagship University“ in der Metropolregion Hamburg pflegt sie innovative und kooperative Verbindungen zu wissenschaftlichen und außerwissenschaftlichen Partnern. Sie produziert für den Standort – aber auch national und international – die zukunftsgerichteten gesellschaftlichen Güter Bildung, Erkenntnis und Austausch von Wissen unter dem Leitziel der Nachhaltigkeit. Die Universität Hamburg führt als zentrale Vergabestelle für die Hochschule für Angewandte Wissenschaften Hamburg (HAW Hamburg) ein Offenes Verfahren für eine Lieferleistung durch. Ziel ist der Kauf und die Lieferung einer vollständigen, direkt betriebsfähigen Anlage für Computertomographie - für das Projekt LAYER - Lebensdauersteigerung von additiv gefertigten (WAAM) Bauteilen mittels hybrider Fertigungsverfahren. Durch den Drittmittelgeber sind für die Beschaffung und Inbetriebnahme der Anlage 280.000,00 € netto bewilligt. Im Rahmen des Projektes werden Methoden entwickelt um ein feinkörniges und quasi-isotropes Gefüge während der Fertigung zu erzeugen. Ferner werden unterschiedliche Verfahren für eine roboterbasierte Insitu-Oberflächenbearbeitung entwickelt, um den nachgeschalteten Schritt der Oberflächenbearbeitung zu eliminieren bzw. den Aufwand zu reduzieren. Im Rahmen des geplanten Forschungsvorhabens müssen Prozessparameterfenster für die Herstellung von „fehlerfreien“ Proben und Demonstratoren erarbeitet werden. Zusätzlich zu der additiven Fertigung müssen Prozessparameterfenster für die Oberflächenbearbeitung und der Gefügeoptimierung entwickelt werden. Die Lebensdauer ist insbesondere von der Art, Form und Lage der Unregelmäßigkeiten in der additiv gefertigten Komponente abhängig. Die Validierung der Prozessparameter durch die Analyse von Schliffbildern reicht nicht aus, da ein Schliffbild nur den Zustand einer Ebene repräsentiert. Die Herstellung und Auswertung von multiplen Schliffebenen ist zwar praktisch möglich, birgt jedoch die Gefahr, dass durch die Präparation wichtige Bereiche weggeschliffen werden oder nicht freigelegt werden können. Daher ist es erforderlich, die Proben mit einer CT-Anlage, im Ganzen zu analysieren. Anhand der durchgeführten Untersuchung können Parameter entwickelt werden, die zu den Bauteilen mit zulässigen Unregelmäßigkeiten führen. Dieser Kreislauf, bestehend aus Probe, Schweißung und Prüfung, gilt es so genau wie möglich durchzuführen, um ein möglichst breites Parameterfester herausarbeiten zu können.

Beschreibung

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