Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM)
- Frist (abgelaufen)
- keine Frist angegeben
- Geschätzter Wert
- 1.680.672 €
- Verfahren
- Verhandlungsverfahren ohne Teilnahmewettbewerb, Lieferung
- Ort der Leistung
- Frankfurt am Main · Frankfurt am Main (Stadt) · Hessen
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38511000 Elektronenmikroskope
Beschreibung
Beschaffung einer Kryo-Plasma-Fokussiertes Ionenstrahl- Rasterelektronenmikroskop (Kryo-pFIB-SEM), d.h. ein komplett neues vollautomatisiertes Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop.
Zuschlag
Den Zuschlag erhielt FEI Deutschland GmbH aus Dreieich am 23.06.2025. 2 Angebote gingen ein.
- Los 1FEI Deutschland GmbH, Dreieich23.06.2025
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