Beschaffung Flicker Noise Messsystem
Fraunhofer Institut Photonische Mikrosysteme IPMSFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 1070 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Öffentliche Ausschreibung
- Ort der Leistung
- Dresden · Sachsen
- Veröffentlicht
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Beschafft werden soll ein kompaktes Messsystem zur Charakterisierung von Flicker-Noise, 1/f-Noise, Random Telegraph Noise und ähnlichen Rauscheffekten in halbleiterelektronischen Bauteilen (z.B. MOSFETs, Speicherzellen, Transistoren, Dioden, Widerständen) zum Zwecke der Technologieentwicklung und -optimierung. Um eine weitgehende Einbindung in die bestehende Infrastruktur zu ermöglichen soll das System über geeignete Schnittstellen zu den verbreitetsten Plattformen der Halbleitermesstechnik verfügen (z.B. Keysight Analyzer, Keysight Switchmatrix, FormFactor- oder TEL-Waferprober) und sollte über geeignete Interfaces fernsteuerbar sein (GPIB-, USB-oder TCP/IP Protokoll). Das System soll weiterhin über eine komplette Softwareumgebung verfügen, um alle Funktionalitäten des Instruments nutzen zu können, Daten zu speichern, Setups zu laden und Diagnosen durchzuführen. Beschaffung Flicker Noise Messsystem