Beschaffung Kontaktwinkelmessgerät
Fraunhofer Institut Photonische Mikrosysteme IPMSFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 1070 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Öffentliche Ausschreibung
- Ort der Leistung
- Dresden · Sachsen
- Veröffentlicht
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Im Rahmes einer Investition soll ein Kontaktwinkelmessgerät für 200 mm Wafer beschafft werden, welches eine standardisierte Qualitätskontrolle von Oberflächen durchführen soll. Diese Investition soll als Ersatz für ein veraltetes System dienen und Prozessverbesserungen hinsichtlich Schnelligkeit, Zuverlässigkeit und Genauigkeit erreichen. Beschaffung Kontaktwinkelmessgerät