Tender Republic Ausschreibungen

Inspektionsmikroskop

Friedrich-Schiller-Universität Jena, JenaFrist abgelaufen

Frist (abgelaufen)
vor 173 Tagen abgelaufen
Geschätzter Wert
nicht angegeben
Verfahren
Öffentliche Ausschreibung
Ort der Leistung
nicht angegeben
Veröffentlicht
Branche
Labor und Messtechnik
CPV
38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)

Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.

Beschreibung

Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte zur Inspektion von Lack- und Wellenleiterstrukturen auf photonischen integrierten Schaltkreisen (PIC) in Lithiumniobat auf Siliziumsubstraten ein (1) Lichtmikroskop beschaffen. Das Mikroskop soll für die schnelle Inspektion zwischen Prozessschritten durch wechselnde Nutzer optimiert sein und die Messung charakteristischer Längen sowie Prüfung typischer Fehlerbilder (Partikel, Lack- und Schichtfehler) ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter gem. Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.

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