Kontaktwinkelmessgerät
Fraunhofer Institut Photonische Mikrosysteme IPMSFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 370 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Öffentliche Ausschreibung
- Ort der Leistung
- Dresden · Sachsen
- Veröffentlicht
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Kontaktwinkelmessgerät spezialisiert auf den Einsatz in der Halbleitertechnologie zur vollautomatischen Messung der Kontaktwinkelhomogenität auf Siliziumwafern zur Prozesscharakterisierung bis 300mm Kontaktwinkelmessgerät