Rasterelektronenmikroskop
Freistaat Bayern, vertreten durch Ostbayerische Technische Hochschule Regensburg, RegensburgFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 1596 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Ort der Leistung
- Regensburg · Bayern
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Zweistrahlgerät Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB / SEM) bzw. hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) - Gebrauchtgerät Rasterelektronenmikroskop
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