Rasterelektronenmikroskop
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), BerlinFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 320 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Öffentliche Ausschreibung
- Ort der Leistung
- nicht angegeben
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38511100 Rasterelektronenmikroskope38511000 Elektronenmikroskope
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
1 Rasterelektronenmikroskop
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