Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder)
- Frist
- in 24 Tagen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Frankfurt (Oder) · Frankfurt (Oder) (Stadt) · Brandenburg
- Veröffentlicht
- Für KMU geeignet
- ja, laut Bekanntmachung
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38540000 Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.
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