Ultraschnelles aberrationskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
Universität Regensburg, RegensburgFrist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 1356 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Ort der Leistung
- Regensburg · Bayern
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38511200 Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Die Universität Regensburg (Auftraggeber) plant für das interdisziplinäre Forschungszentrum ?Regensburg Center for Ultrafast Nanoscopy? (RUN) den Aufbau eines Ultraschnellen Transmissionselektronenmikroskops (UTEM). Hierfür soll ein konventionelles aberrationskorrigiertes 200 keV-Transmissionselektronenmikroskop angeschafft werden, das vom Nutzer für einen UTEM-Betrieb modifiziert wird. Das zu beschaffende Mikroskop soll mit einem kalten Feldemitter als Elektronenquelle und einem probe-Aberrationskorrektor ausgestattet sein. Zur energieaufgelösten Elektronendetetektion muss das Mikroskopsystem ein abbildendes Elektronenspektrometer beinhalten. Weiterhin müssen je ein einzelelektronen-empfindlicher CMOS-basierter Elektronendetektor vor und nach dem Elektronenspektrometer vorhanden sein. Für Rastertransmissionselektronenmikroskopie müssen Hell- und Dunkelfelddetektoren installiert sein. Das System beinhaltet außerdem Einfach- und Doppelkippprobenhalter sowie einen Doppelkippprobenhalter, der Proben auf Flüssigstickstofftemperatur herunterkühlt. Für holographische Abbildungen muss ein elektrostatisches Biprisma im System integriert sein. Um einen UTEM-Betrieb zu ermöglichen, ist es essenziell, dass das Mikroskopsystem mit den vom Nutzer entwickelten Femtosekunden-Elektronenquellen auf der Basis der 200-keV-Schottky-Feldemitterquellen des Herstellers JEOL kompatibel ist. Bitte beachten Sie, dass wegen Schließung der Universität Regensburg zwischen 24.12.2022-08.01.2023 keine Bieterfragen beantwortet werden können! Ultraschnelles aberrationskorrigiertes Transmissionselektronenmikroskop
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