200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder)Frist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 73 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Frankfurt (Oder) · Frankfurt (Oder) (Stadt) · Brandenburg
- Veröffentlicht
- Für KMU geeignet
- ja, laut Bekanntmachung
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38341300 Instrumente zum Messen elektrischer Größen38540000 Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
200 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
Ähnliche offene Verfahren
Labor und Messtechnik in Brandenburg, nach Frist sortiert. Alle anzeigen
- in 8 TagenSemi-automatic prober for characterization of 200 mm wafersIHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Offenes Verfahren · Frankfurt (Oder)Frankfurt (Oder)nicht angegeben
- in 24 TagenSemi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm WafersIHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik · Offenes Verfahren · Frankfurt (Oder)Frankfurt (Oder)nicht angegeben
- in 51 TagenLieferung, Installation, Einweisung und Schulung LC-MSMSLandeslabor Berlin-Brandenburg · Offenes Verfahren · Frankfurt (Oder)Frankfurt (Oder)nicht angegeben