300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, Frankfurt (Oder)Frist abgelaufen
- Frist (abgelaufen)
- vor 81 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Frankfurt (Oder) · Frankfurt (Oder) (Stadt) · Brandenburg
- Veröffentlicht
- Für KMU geeignet
- ja, laut Bekanntmachung
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38341300 Instrumente zum Messen elektrischer Größen38540000 Maschinen und Geräte zum Prüfen und Messen
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
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