Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- Frist
- in 22 Tagen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Jena (Stadt) · Thüringen
- Veröffentlicht
- Für KMU geeignet
- keine Angabe des Auftraggebers
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Die Vergabeunterlagen liegen auf der Plattform des Auftraggebers.
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt für ihre wissenschaftliche Tätigkeit den Kauf eines (1) Kompakt-Rasterelektronenmikroskops zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung von Nanopartikeln und Nanofasern. Das System soll eine einfache Bedienung sowie eine wartungsarme Instandhaltung ermöglichen. Mindestanforderungen: siehe Anlage 2.
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