Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes
Friedrich-Schiller-Universität Jena, Jenavergeben
- Frist (abgelaufen)
- vor 237 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Jena (Stadt) · Thüringen
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena möchte ein Raster-Kraft-Mikroskop mit phasenaufgelöster Detektion des gestreuten optischen Nahfeldes (scattering Scanning Nearfield Optical Microscope s-SNOM) beschaffen. Dieses soll die Charakterisierung der Anregungsdynamik nanostrukturierter Oberflächen unter Anregung mit kohärenter Laserstrahlung im sichtbaren bis infraroten Spektralbereich mit einer lateralen Ortsauflösung von 30 nm durch intensitäts- und phasenaufgelöste Vermessung des an einer Spitze gestreuten optischen Nachfeldes ermöglichen. Die technischen Leistungsparameter aus Anlage 2 sind mindestens zu erfüllen.
Zuschlag
Den Zuschlag erhielt attocube systems AG aus Haar am 09.03.2026.
- Los 1attocube systems AG, Haar09.03.2026
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