Rasterelektronenmikroskop
Friedrich-Schiller-Universität Jena, Jenavergeben
- Frist (abgelaufen)
- vor 326 Tagen abgelaufen
- Geschätzter Wert
- nicht angegeben
- Verfahren
- Offenes Verfahren, Lieferung
- Ort der Leistung
- Jena (Stadt) · Thüringen
- Veröffentlicht
- Branche
- Labor und Messtechnik
- CPV
- 38000000 Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Beschreibung
Die Friedrich-Schiller-Universität Jena beabsichtigt den Kauf eines Rasterelektronenmikroskops für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien, welche die Bedingungen aus Anlage 2 erfüllen muss, siehe Mindestanforderungen. Angebote von umfangreich modernisierten Gebrauchtgeräten, direkt vom Refurbishing-Unternehmen sind gewünscht.
Zuschlag
Den Zuschlag erhielt point elektronic GmbH aus Halle (Saale) am 03.12.2025.
- Los 1point elektronic GmbH, Halle (Saale)03.12.2025
Ähnliche offene Verfahren
Labor und Messtechnik in Thüringen, nach Frist sortiert. Alle anzeigen
- heute, in 6 StundenMultifunktionales FPGA-basiertes Steuerungs-, Mess und SignalverarbeitungsinstrumentFriedrich-Schiller-Universität Jena · Offenes Verfahren · JenaJenanicht angegeben
- in 3 TagenHochleistungs-Erbium-Faser-Laser - PR1261401-2660-WFraunhofer-Gesellschaft - Einkauf B12 · Offenes Verfahren · JenaJenanicht angegeben
- in 7 TagenChemisch-mechanische PoliermaschineFriedrich-Schiller-Universität Jena · Offenes Verfahrenohne Ortnicht angegeben
- in 21 TagenKompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und CharakterisierungFriedrich-Schiller-Universität Jena · Offenes Verfahrenohne Ortnicht angegeben
- in 21 TagenAutomatisiertes Viskosimeter/Rheometer für KleinstprobenmengenFriedrich-Schiller-Universität Jena · Offenes Verfahrenohne Ortnicht angegeben
- in 21 TagenSpektral aufgelöster Zeilendetektor im Infrarot-Bereich von 1050-2200 nmFriedrich-Schiller-Universität Jena · Offenes Verfahrenohne Ortnicht angegeben